功率半导体可靠性测试主要用于评估器件的寿命,模拟产品在长时间使用或特定环境条件下性能的变化。特别针对器件的工艺可靠性以及芯片性能的可靠性进行实验。
	 
 
	
	功率器件热特性测试产品优势 
	
	 
	
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		测试电流等级到3600A,兼容SiC MOS模块测试; 
	
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		通道数提升至18个,可支持更多器件同时测试; 
	
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		具备瞬态、稳态热阻的测试功能; 
	
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		支持分钟级和秒级功率循环测试; 
	
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		三个实验通道,通道流量独立控制。 
	
	
	
	高温电压偏置测试产品优势 
	
 
	
	
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		兼容Si/SiC/GaN 材料的IGBT、MOSFET、DIODE等功率器件测试,器件形式兼容单管、模块等不同封装。 
	
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		测试精度高,电流的量程根据实际所测的漏电流自动选择分档,以保证测试精度; 
	
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		实时监控测试温度、数据,试验每通道电压/工位漏电流检测/试验箱温度检测并描绘出完整变化曲线; 
	
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		独立高压击穿保护,每工位串联保护器件,防止器件失效造成的测试板损坏;